博微BW-3010A半导体光耦测试系统

2024-08-16 12:32 1.85.158.135 1次
发布企业
陕西博微电通科技有限责任公司商铺
认证
资质核验:
已通过营业执照认证
入驻顺企:
1
主体名称:
陕西博微电通科技有限责任公司
组织机构代码:
91611105MACGHHNC7X
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关键词
半导体反偏栅测试,光耦测试,半导体热特性测试,半导体功率循环测,半导体间歇寿命测
所在地
西咸新区沣东新城鑫森源产业园
联系电话
029-33197397
手机
15353786259
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产品详细介绍



晶体管光耦参数测试仪

型号: BW-3010A

用途: BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。

  BW-3010A产品介绍:

BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试,BW-3010A为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。

产品电气参数:

产品信息

产品型号:BW-3022A

产品名称:晶体管光耦参数测试仪

物理规格

主机尺寸:深 305*宽 280*高120(mm)

主机重量:<4.5Kg

主机颜色:白色系

电气环境

主机功耗:<75W

环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);

相对湿度:≯85%;

大气压力:86Kpa~106Kpa;

防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;

电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

     工作时间:连续;



服务领域:


image.png

应用场景:

   ▶选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

   ▶检验筛选(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

产品特点:

   ▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单

   ▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.

   ▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.

   ▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.

   ▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V;

   ▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;

   ▶软件自校准功能;

   ▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试;

   ▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示;

   ▶两种工作模式:手动、自动测试模式。

       BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系

型号类型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A测试端

K

K测试端

E

E测试端

C

C测试端

    

                                  



BW-3010A测试技术指标:

1、 耐压(VCEO)测试指标

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA




2、输入正向压降(VF)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA




3、反向漏电流(ICEO)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V




4、电流传输比(CTR)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE:0-20V

IF:0-100MA




5、输出导通压降(VCE(sat))

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-1.000A

IF:0-1.000A




6、极性识别方式:自动极性转向测试  (自动识别方向)

7、 可分档位总数:10档

            BW-3010A测试定义与规范:


AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K EC极.

VF:IF:表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.

Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.

Vce:Ir:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.

CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。

CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。

Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。

Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。


所属分类:中国仪表网 / 参数测试仪器
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成立日期2023年05月12日
法定代表人霍昀香(法定代表人)
注册资本500
主营产品半导体测试设备,功率器件可靠性测试,热特性安全测试,储能及电力能源安全管理系统
经营范围一般项目:半导体器件专用设备制造;电子专用设备制造;工业自动控制系统装置制造;半导体分立器件销售;电子产品销售;半导体分立器件制造;电子测量仪器制造;智能控制系统集成;半导体器件专用设备销售;专用仪器制造;先进电力电子装置销售;环境监测专用仪器仪表销售;电子测量仪器销售;电池销售;智能仪器仪表销售;智能车载设备销售;新能源原动设备销售;进出口代理;对外承包工程;电气设备修理;在线能源监测技术研发;技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)。
公司简介陕西博微电通科技有限责任公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子设备、电池安全管理系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。公司位于古城西安西咸新区沣东新城能源金贸区,地理位置环境优越,依托西安众多高校及研究所,公司拥有一批高素质人才队伍,从软件开发、硬件设计、系统集成、产品升级迭代及售后服务均由专业技术人员完成,多年来公司与深圳、西安、杭州等多家高科技企业合作开发出针对半导体 ...
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