半导体器件参数测试仪系统SC2520
更新：2025-06-06 12:29 编号：37678544 发布IP：123.139.179.134 浏览：7次
- 发布企业
- 西安中昊芯测科技有限公司
- 认证
- 资质核验：已通过营业执照认证入驻顺企：第1年主体名称：西安中昊芯测科技有限公司组织机构代码：91610132MADX2ALC0L
- 报价
- 请来电询价
- 关键词
- 分立器件测试仪,晶体管参数测试仪,半导体测试仪,功率器件测试仪,静态参数测试仪
- 所在地
- 陕西省西安市未央区凤城二路10号B座812
- 手机
- 17795792519
- 联系人
- 黄辉 请说明来自顺企网，优惠更多
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详细介绍
半导体器件参数测试仪SC2520
一、半导体器件参数测试仪SC2520产品概述
半导体器件参数测试仪SC2520是一款通用型分立器件参数测试设备，可测试多种半导体器件的静态直流参数，测试仪可单机工作，也可连接上位机程控测试，测试速度快，精度高，测试电压达2.5KV，电流达200A，基本可以覆盖绝大多数中小功率单管及模块的测量，测试数据可单机实时读取，也可上位机生成TXT或EXCEL报表导出，方便用户使用。
二、产品功能
半导体器件参数测试仪SC2520主要测试半导体器件的种类和参数如下：
MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss
IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices
BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices
DIODE：Vfd、Vr
ZENER：Vfd 、Vz
TVS：Vfd 、Vz
LED：Vfd、 Vr
RES：R（针对大电流小阻值取样电阻）
OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco
MOV：压变电阻Vc
RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V释放
三、技术参数
项目 | 参数 | 单位 |
电流档 0~100mA 分辨率 | 0.01 | mA |
电流档 100~1000mA 分辨率 | 0.1 | mA |
电流档 1~10A 分辨率 | 1 | mA |
电流档 10~200A 分辨率 | 10 | mA |
脉冲电流档位 | 四 | 档 |
档位步进 | 0.01 | % |
脉冲宽度 | 500 | us |
开路输出电压 | ≥60 | V |
正向压降测量范围 | 0~10 | V(100-200A) |
正向压降测量范围 | 0~60 | V(≤100A) |
栅极输出电压 | ±30 | V |
栅极漏电流测试范围 | 600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA | |
栅极漏电流带快速充电功能 | 有 | |
耐压电压 | 0~2500 | Vdc |
耐压电流 | 0~2μA 0~20μA 0~200μA 0~2000μA | |
漏电电流一键 zero 校零技术 | 漏电分辨率可达 100pA | |
可手动按钮触发，也可脚踏触发功能 | 有 | |
隔离的 RS-485 通讯端口 | 有 | |
RS-485 接口升级软件 | 有 | |
供电电压 | 220 | VAC |
四、应用领域及场景
>测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)
>失效分析(对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)
>选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
>来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率)
>量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试)
| 主营产品 | 半导体分立器件测试系统，美国STI5000系列测试机维修 | ||
| 公司简介 | 西安中昊芯测科技有限公司，是一家专业从事半导体电性能测试设备开发制造、电参数测试方案搭建、综合测试分析服务于一体的技术服务型企业，核心业务为半导体分立器件电学参数测试设备的开发制造，产品主要涉及分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪、继电器测试仪、功率循环、环境老化、雪崩浪涌等测试系统，产品具有高速智能、高精度、宽量程等技术优势，已经广泛应用于高校、科院院所、家电 ... | ||
