半导体CV特性分析仪
更新：2025-09-02 15:09 编号：43021293 发布IP：111.19.47.84 浏览：6次
- 发布企业
- 西安中昊芯测科技有限公司
- 认证
- 资质核验：已通过营业执照认证入驻顺企：第1年主体名称：西安中昊芯测科技有限公司组织机构代码：91610132MADX2ALC0L
- 报价
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- 关键词
- 电容-电压测试仪,曲线分析仪,半导体参数分析仪,半导体器件分析仪,CV测量系统
- 所在地
- 陕西省西安市未央区凤城二路10号B座812
- 手机
- 17795792519
- 联系人
- 黄辉 请说明来自顺企网，优惠更多
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详细介绍
TH510系列半导体CV特性分析仪技术解析与应用
一、设备概述
TH510系列是专用于半导体器件电容-电压（C-V）特性测试的高精度分析仪，具备多参数测量、高速扫描及多通道扩展能力，适用于功率器件、集成电路等半导体元件的研发与质量控制。
二、核心性能特点
高效测试能力
双CPU架构：LCR测试速度达0.56ms/次（1800次/秒），支持快速导通测试（Cont）。
多参数同测：可同步测量并显示寄生参数（Ciss、Coss、Crss、Rg）。
灵活配置
通道扩展：标配2通道，可扩展至6通道，支持双芯片并行测试。
测试模式：点测、列表扫描（Zui多1001点）、图形扫描（选件）。
高精度与宽范围
电压范围：VGS（±40V）、VDS（200V/1500V/3000V可选）。
频率覆盖：1kHz-2MHz，分辨率达0.01%。
三、典型应用场景
器件测试：MOSFET、IGBT、二极管等寄生电容及C-V特性分析。
材料研究：晶圆、液晶材料的介电常数与弹性常数测量。
工艺优化：通过C-V曲线评估半导体掺杂浓度与界面态密度。
四、技术参数摘要
五、操作与扩展功能
校准与分选：支持开路/短路/负载校准，10档分选（Bin）及PASS/FAIL指示。
数据管理：内部存储100M，外接USB保存设定文件、图形及记录。
该设备以一体化设计（LCR+高压源+通道切换）为核心，兼顾效率与精度，是半导体研发与生产的理想工具。
| 主营产品 | 半导体分立器件测试系统，美国STI5000系列测试机维修 | ||
| 公司简介 | 西安中昊芯测科技有限公司，是一家专业从事半导体电性能测试设备开发制造、电参数测试方案搭建、综合测试分析服务于一体的技术服务型企业，核心业务为半导体分立器件电学参数测试设备的开发制造，产品主要涉及分立器件测试仪、MOS管测试仪、IGBT测试仪、晶闸管测试仪、光耦测试仪、继电器测试仪、功率循环、环境老化、雪崩浪涌等测试系统，产品具有高速智能、高精度、宽量程等技术优势，已经广泛应用于高校、科院院所、家电 ... | ||
